LSI設計・製造に関して,テスト生成アルゴリズム,テスト容易化設計アルゴリズムなど,設計自動化に関する技術を中心として,論理設計,テスト設計技術を有します.また,低消費電力・高信頼向けの非同期式回路のテスト技術,フィールドテストに関する特許を有します.データマイニング技術,AI技術を活用した不良品予...
大竹 哲史 - 理工学部 理工学科 知能情報システムプログラム
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